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溫度應力試驗箱

溫度應力試驗箱

簡要描述:溫度應力試驗箱采用新型PWM冷控制技術實現低溫節(jié)能運行:低溫工作狀態(tài),加熱器不參與工作,通過PWM技術控制調節(jié)制冷機組制冷劑流量和流向,對制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調節(jié),實現對工作室溫度的自動恒定。此方式在低溫工況下,可實現降低40%的能耗。

所屬分類:溫度沖擊應力篩選試驗箱

更新時間:2024-05-23

廠商性質:生產廠家

詳情介紹
品牌SETH/賽思產地類別國產
應用領域能源,電子,航天,汽車,電氣

溫度應力試驗箱TSR(斜率可控制)[5℃~30 ℃/min]: 

30℃/min→ 電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗; 
28℃/min→ LED汽車照明燈; 
25℃/min→ PCB的產品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應;
 24℃/min→ 光纖連接頭; 
20℃/min→ IPC-9701 、覆晶技術的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統(tǒng)&端子、改進導通孔系統(tǒng)信號 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命;
 17℃/min→ MOTO;
 15℃/min→ IEC 60749-25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車引擎蓋下環(huán)境);
 11℃/min→ 無鉛CSP產品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A; 
10℃/min→ 通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試;
 5℃/min→ 錫須溫度循環(huán)試驗; 

溫度應力試驗箱技術規(guī)格:

內箱尺寸:W x D x H cm 40×35×35、 50×50×40、 60×50×50、 70×60×60
 外箱尺寸:W x D x H cm 140×165×165、 150×200×175、 160×225×185、 170×260×193
 溫度范圍: -80.00℃~+200.00℃; 
低溫沖擊范圍: -10.00℃~-40℃//-55℃//-65.00℃; 
高溫沖擊范圍: +60.00℃~+150.00℃; 
時間設定范圍: 0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment;
 溫度波動度: ≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示);
 溫度偏差: ≤±2℃(-65℃~+150℃);
 溫度均勻度: <2.00℃以內;



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