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應力篩選復合試驗箱

應力篩選復合試驗箱

簡要描述:應力篩選復合試驗箱改變了以往為進行溫度儲存、溫度循環(huán)、高低溫沖擊兩箱式、高低溫+常溫沖擊三箱式、應力篩選ESS試驗,至少需要購買四臺設備的狀況。集多種機型于一體的功能設計,一次性解決您的需求,滿足不同產品不同試驗的多樣性與多變性,提高機臺的利用率和工作效率。

所屬分類:應力篩選試驗箱

更新時間:2024-05-23

廠商性質:生產廠家

詳情介紹
品牌SETH/賽思產地類別國產
應用領域能源,電子,航天,汽車,電氣

應力篩選復合試驗箱改變了以往為進行溫度儲存、溫度循環(huán)、高低溫沖擊兩箱式、高低溫+常溫沖擊三箱式、應力篩選ESS試驗,至少需要購買四臺設備的狀況。集多種機型于一體的功能設計,一次性解決您的需求,滿足不同產品不同試驗的多樣性與多變性,提高機臺的利用率和工作效率。適用于對整機產品、元器件、零部件、材料等進行溫度儲存、慢速溫度循環(huán)3~5℃/min、應力篩選5~15℃/min、快速溫變15~30℃/min、冷熱沖擊試驗、檢驗產品在試驗過程中本身的適應能力與特性是否改變。每種產品都有其自身適用的環(huán)境應力篩選方法,產品在試驗過程中將受到設定的應力作用,產品的各零件、材料運用等方面的缺陷將被提前發(fā)現(xiàn),以便于更好的改進產品的設計和應用。

應力篩選復合試驗箱試驗指標:

TSR(斜率可控制)[5℃~30 ℃/min]

30℃/min→

電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗

28℃/min→

LED汽車照明燈

25℃/min→

PCB的產品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應

24℃/min→

光纖連接頭

20℃/min→

IPC-9701 、覆晶技術的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統(tǒng)&端子、改進導通孔系統(tǒng)信號 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命

 

17℃/min→

MOTO

15℃/min→

IEC 60749-25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車引擎蓋下環(huán)境)

11℃/min→

無鉛CSP產品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A

10℃/min→

通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試

5℃/min→

 

錫須溫度循環(huán)試驗

試驗分析:

型號:

型號

SER-A

SER-B

SER-C

SER-D

內箱尺寸
W x D x H cm

40×35×35

50×50×40

60×50×50

70×60×60

外箱尺寸
W x D x H cm

140×165×165

150×200×175

160×225×185

170×260×193

溫度范圍

-80.00℃~+200.00℃

低溫沖擊范圍

-10.00℃~-40℃//-55℃//-65.00℃

高溫沖擊范圍

+60.00℃~+150.00℃

時間設定范圍

0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment

溫度波動度

≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示)

溫度偏差

≤±2℃(-65℃~+150℃)

溫度均勻度

<2.00℃以內

溫變速率(斜率)

+5℃~+30℃/min(+40℃)

溫變范圍

-55℃~+85℃//+125℃

 



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