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高低溫沖擊應(yīng)力篩選箱

高低溫沖擊應(yīng)力篩選箱

簡(jiǎn)要描述:高低溫沖擊應(yīng)力篩選箱適用于考核產(chǎn)品(整機(jī))、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力,該溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)軌蛄私庠囼?yàn)樣品一次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來(lái)的影響。影響溫度變化試驗(yàn)的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間、以及試驗(yàn)的循環(huán)次數(shù)等因素。

所屬分類:冷熱沖擊應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱

更新時(shí)間:2024-05-23

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

詳情介紹
品牌SETH/賽思價(jià)格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子,航天,汽車,電氣

高低溫沖擊應(yīng)力篩選箱改變了以往為進(jìn)行溫度儲(chǔ)存、溫度循環(huán)、高低溫沖擊兩箱式、高低溫+常溫沖擊三箱式、應(yīng)力篩選ESS試驗(yàn),至少需要購(gòu)買四臺(tái)設(shè)備的狀況。集多種機(jī)型于一體的功能設(shè)計(jì),一次性解決您的需求,滿足不同產(chǎn)品不同試驗(yàn)的多樣性與多變性,提高機(jī)臺(tái)的利用率和工作效率。應(yīng)力篩選復(fù)合試驗(yàn)箱適用于對(duì)整機(jī)產(chǎn)品、元器件、零部件、材料等進(jìn)行溫度儲(chǔ)存、慢速溫度循環(huán)3~5℃/min、應(yīng)力篩選5~15℃/min、快速溫變15~30℃/min、冷熱沖擊試驗(yàn)、檢驗(yàn)產(chǎn)品在試驗(yàn)過(guò)程中本身的適應(yīng)能力與特性是否改變。每種產(chǎn)品都有其自身適用的環(huán)境應(yīng)力篩選方法,產(chǎn)品在試驗(yàn)過(guò)程中將受到設(shè)定的應(yīng)力作用,產(chǎn)品的各零件、材料運(yùn)用等方面的缺陷將被提前發(fā)現(xiàn),以便于更好的改進(jìn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和應(yīng)用。

高低溫沖擊應(yīng)力篩選箱行業(yè)優(yōu)勢(shì):

◆ 可執(zhí)行AMP(等均溫變)、三箱沖擊(TC)、兩箱沖擊(TS)、高溫儲(chǔ)存、低溫儲(chǔ)存功能;◆ 等均溫速率可設(shè)定范圍5℃~30℃(40℃);◆ 滿足無(wú)鉛制程、無(wú)鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗(yàn)要求;◆ 采用美國(guó)Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行;◆除霜周期三天除霜一次,每次只需1小時(shí)完成;◆ 通信配置RS232接口和USB儲(chǔ)存曲線下載功能;◆ 感測(cè)器放置測(cè)試區(qū)出(回)風(fēng)口符合實(shí)驗(yàn)有效性;◆ 機(jī)臺(tái)多處報(bào)警監(jiān)測(cè),配置無(wú)線遠(yuǎn)程報(bào)警功能;

測(cè)試指標(biāo):滿足無(wú)鉛制程、無(wú)鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗(yàn)要求。

TSR(斜率可控制)[5℃~30 ℃/min]

30℃/min→

電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗(yàn)

28℃/min→

LED汽車照明燈

25℃/min→

PCB的產(chǎn)品合格試驗(yàn)、測(cè)試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應(yīng)

24℃/min→

光纖連接頭

20℃/min→

IPC-9701 、覆晶技術(shù)的溫度測(cè)試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗(yàn) PCB暴露在外界影響的ESS 測(cè)試方法、DELL計(jì)算機(jī)系統(tǒng)&端子、改進(jìn)導(dǎo)通孔系統(tǒng)信號(hào) 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對(duì)焊錫的疲勞壽命

 

17℃/min→

MOTO

15℃/min→

IEC 60749-25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測(cè)試(家電、計(jì)算機(jī)、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車引擎蓋下環(huán)境)

11℃/min→

無(wú)鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測(cè)試、芯片級(jí)封裝可靠度試驗(yàn)(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A

10℃/min→

通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對(duì)焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測(cè)試

5℃/min→

 

錫須溫度循環(huán)試驗(yàn)

技術(shù)規(guī)格:

型號(hào)

SER-A

SER-B

SER-C

SER-D

內(nèi)箱尺寸
W x D x H cm

40×35×35

50×50×40

60×50×50

70×60×60

外箱尺寸
W x D x H cm

140×165×165

150×200×175

160×225×185

170×260×193

溫度范圍

-80.00℃~+200.00℃

低溫沖擊范圍

-10.00℃~-40℃//-55℃//-65.00℃

高溫沖擊范圍

+60.00℃~+150.00℃

時(shí)間設(shè)定范圍

0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment

溫度波動(dòng)度

≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示)

溫度偏差

≤±2℃(-65℃~+150℃)

溫度均勻度

<2.00℃以內(nèi)

溫變速率(斜率)

+5℃~+30℃/min(+40℃)

溫變范圍

-55℃~+85℃//+125℃



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