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可靠性增長試驗RGT
(reliability growth test)
依據(jù)GJB450A《裝備可靠性工作通用要求》分類,可靠性試驗可以分為環(huán)境應(yīng)力篩選、可靠性研制試驗、可靠性增長試驗、可靠性鑒定試驗、可靠性驗收試驗、壽命試驗。
可靠性增長試驗RGT
(reliability growth test)
職責(zé)目的:暴露潛在缺陷并采取糾正措施,逐步使產(chǎn)品的可靠性達到規(guī)定的要求。
適用對象:電子產(chǎn)品、電氣、機電、光電和電化學(xué)產(chǎn)品和機械產(chǎn)品。
適用時機:產(chǎn)品的研制階段中期,產(chǎn)品的技術(shù)狀態(tài)大部分已經(jīng)確定。
可靠性增長試驗,是通過對產(chǎn)品施加真實的或模擬的綜合環(huán)境應(yīng)力,暴露產(chǎn)品的潛在缺陷并采取糾正措施,使產(chǎn)品的可靠性達到預(yù)定要求的一種實驗。它是一個有計劃的試驗——分析——改進(TAAF)的過程,其試驗?zāi)康脑谟趯Ρ┞冻龅膯栴}采取有效的糾正措施,從而達到預(yù)定的可靠性增長目標。
產(chǎn)品的固有可靠性是由設(shè)計確定并通過制造實現(xiàn)的。由于產(chǎn)品復(fù)雜性的不斷增加和新材料、新工藝、新技術(shù)的廣泛應(yīng)用,產(chǎn)品設(shè)計需要有一個不斷認識、不斷改進、完善的過程。樣機在試驗或運行當(dāng)中,不斷暴露出薄弱環(huán)節(jié),再不斷糾正、改進,從而提高產(chǎn)品的可靠性水平,逐步達到可靠性目標值。
理想的可靠性增長過程:
階段:研制階段。臺樣機研制出來時,由于存在設(shè)計缺陷等系統(tǒng)性薄弱環(huán)節(jié),初始的平均故障間隔時間(MTBF)較低(A 點)。在可靠性增長研制試驗以及其他試驗中,不斷地暴露出系統(tǒng)性失效,通過分析,有針對性地采取糾正措施,進行設(shè)計更改,一直到研制階段結(jié)束,可靠性在不斷增長,達到B 點。
第二階段:試生產(chǎn)階段。由于設(shè)計階段樣機數(shù)量較少,設(shè)計缺陷很難充分暴露出來,特別是批次性的元器件缺陷不能充分暴露出來;設(shè)計階段元器件由設(shè)計人員掌握,設(shè)計更改、元器件更換隨意性較大,往往會掩蓋設(shè)計方面的不足和元器件方面的缺陷;樣機的應(yīng)力篩選試驗很充分,而生產(chǎn)階段的產(chǎn)品不可能有如此長的環(huán)境應(yīng)力篩選周期。所以,在試生產(chǎn)開始的時候,使產(chǎn)品的可靠性低于樣品研制結(jié)束時的可靠性,從B 點下降到C 點。在試生產(chǎn)過程中,通過繼續(xù)采用糾正、改進措施,可靠性將不斷增長,達到D 點。
第三階段:批生產(chǎn)和使用階段。在批生產(chǎn)開始的時候,由于工藝缺陷、裝配缺陷以及質(zhì)量控制問題,可能使批生產(chǎn)產(chǎn)品的可靠性水平從D 點下降到E 點。隨著關(guān)鍵問題的不斷解決,各種工藝缺陷、裝配缺陷得到糾正,可靠性將繼續(xù)增長,達到規(guī)定的MTBF 。由以上可知,實現(xiàn)可靠性增長是反復(fù)設(shè)計、反復(fù)糾正的結(jié)果。隨著設(shè)計的成熟,研究確定實際存在(通過試驗)的或潛在(通過分析)的故障源,進一步的設(shè)計工作應(yīng)當(dāng)放在改正這些問題上。從理論上講,產(chǎn)品壽命期的各個階段都可以實現(xiàn)可靠性增長,但是對于各階段所進行的可靠性增長,在經(jīng)濟性和及時性方面又都各不相同。
可靠性增長試驗方案:
可靠性增長試驗前必須制訂產(chǎn)品的可靠性增長試驗方案。
試驗方案應(yīng)著重說明如何進行性能監(jiān)控、故障檢測、失效分析,并特別強調(diào)防止故障再現(xiàn)的設(shè)計更改及其驗證。為了達到既定的增長目標,并對終可靠性水平作出合理的評估,要求試驗前先評估出產(chǎn)品可能的初始可靠性水平;確定合理的增長率;選用恰當(dāng)?shù)母櫤驮u估模型;試驗中應(yīng)對產(chǎn)品施加由產(chǎn)品壽命周期內(nèi)的任務(wù)剖面轉(zhuǎn)換得來的綜合環(huán)境應(yīng)力或?qū)嶋H的使用環(huán)境應(yīng)力;對試驗前的準備工作情況及試驗結(jié)果要進行評審。
產(chǎn)品可靠性增長試驗前,應(yīng)完成并通過環(huán)境適應(yīng)性試驗。可靠性增長試驗一般只適用于有定量可靠性要求,且增長試驗所需的時間和經(jīng)費可以接受,現(xiàn)有的實驗室能夠提供其要求的綜合環(huán)境條件的關(guān)鍵、主要的產(chǎn)品。當(dāng)需用成功的可靠性增長試驗代替可靠性鑒定試驗時,該方案事先必須得到訂購方的認可。
產(chǎn)品開發(fā)和生產(chǎn)過程中都應(yīng)促進自身的可靠性增長。預(yù)期的增長應(yīng)表現(xiàn)在各開發(fā)階段和生產(chǎn)過程中都有相應(yīng)的增長目標值。因此,應(yīng)制定一個完整的可靠性增長計劃,計劃應(yīng)包括對產(chǎn)品開發(fā)增長的計劃曲線。增長計劃曲線的制定主要應(yīng)根據(jù)同類產(chǎn)品預(yù)計過程中所得的數(shù)據(jù),通過分析以便確定可靠性增長試驗的時間,并且使用監(jiān)測試驗過程的方法對增長計劃進行管理
依據(jù)標準:
GB/T15174-1994
GJB1407
IEC61014等。
快速溫變濕熱試驗箱 技術(shù)規(guī)格:
型 號 | SES-225 | SES-408 | SES-800 | SES-1000 | SES-1500 |
內(nèi)箱尺寸 (W x D x H cm) | 50×60×75 | 60×80×85 | 80×100×100 | 100×100×100 | 100×100×150 |
外箱尺寸 ( W x D x H cm) | 115×125×160 | 125×145×170 | 145×195×185 | 155×225×195 | 250×125×190 |
承載重量 | 20kg | 30kg | 30kg | 50kg | 75KG |
溫度速率 | 等均溫/平均溫5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min。 | ||||
溫度范圍 | -70℃~﹢180℃ | ||||
溫度均勻度 | ≤2℃ | ||||
溫度波動度 | ±0.5℃ | ||||
溫度偏差 | ±2℃ | ||||
溫變范圍 | -40℃/-55℃~+125℃(高溫至少+85℃以上) | ||||
濕度范圍 | 20%~98% | ||||
濕度偏差 | ±3%(>75%RH), ±5%(≤75%RH) | ||||
腳輪 | 4個(外形尺寸不含腳輪)腳輪增高50~120mm | ||||
觀察窗 | 450×450mm帶加熱裝置防止冷凝和結(jié)霜 | ||||
測試孔 | φ100mm位于箱體右側(cè)(人面朝大門) | ||||
照明燈 | 35W/12V | ||||
節(jié)能調(diào)節(jié)方式 | 冷端PID調(diào)節(jié)方式(即加熱不制冷,制冷不加熱),比平衡調(diào)溫方式節(jié)能40% | ||||
加熱方式 | 鎳鉻合金電熱絲(3重超溫保護) | ||||
制冷機 | 德國*品牌壓縮機 | ||||
制冷劑 | 環(huán)保制冷劑R404a / R23(臭氧耗損指數(shù)均為0) | ||||
冷卻方式 | 水冷(水溫7℃~28℃,水壓0.1~0.3Mpa),以便確保降溫性能 | ||||
控制器 | 7寸彩色觸摸屏控制器 | ||||
運行方式 | 程式運行+定值運行 | ||||
傳感器 | PT100 | ||||
通訊功能 | RS485 標配USB | ||||
曲線記錄功能 | 觸摸屏自動記錄 | ||||
電源 | 380V±10%/50HZ,三相四線+地線(3P+N+G) |