環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS）中的“潛在缺陷

發(fā)布時(shí)間： 2016-08-15　　點(diǎn)擊次數(shù)： 1621次

環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)中的“潛在缺陷”是啥？

環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)是通過(guò)向電子產(chǎn)品施加合理的環(huán)境應(yīng)力和電應(yīng)力，將其內(nèi)部的“潛在缺陷”激發(fā)成為故障，并通過(guò)檢測(cè)發(fā)現(xiàn)和排除的過(guò)程，是一種工藝手段。在制定ESS方案前，首先應(yīng)研究產(chǎn)品缺陷，即研究產(chǎn)品缺陷是開(kāi)展ESS的前提。根據(jù)缺陷特點(diǎn)，可將產(chǎn)品缺陷按以下方式分類：

1．按引入缺陷的源頭分類，可分為設(shè)計(jì)缺陷、生產(chǎn)缺陷、元器件及原材料缺陷。

2．按可檢測(cè)程度分類，可分為明顯缺陷與潛在缺陷。

3．按ESS效果分類，可分為ESS能激發(fā)和導(dǎo)致故障的缺陷、ESS不能激發(fā)和導(dǎo)致故障的缺陷。

下表給出了ESS與“潛在缺陷”的關(guān)系。

缺陷分類		元器件缺陷	設(shè)計(jì)缺陷	生產(chǎn)缺陷	ESS作用	發(fā)現(xiàn)缺陷手段
明顯缺陷	可能導(dǎo)致故障的缺陷	可檢測(cè)出	可檢測(cè)出	可檢測(cè)出	能激發(fā)	檢驗(yàn)
明顯缺陷	不能導(dǎo)致故障的缺陷	可檢測(cè)出	可檢測(cè)出	可檢測(cè)出	不能激發(fā)	檢驗(yàn)
潛在缺陷	可能導(dǎo)致故障的缺陷	不能測(cè)出	不能測(cè)出	不能測(cè)出	能激發(fā)	ESS
潛在缺陷	不能導(dǎo)致故障的缺陷	不能測(cè)出	不能測(cè)出	不能測(cè)出	不能激發(fā)	——

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